Merjenje zaostalih napetosti in zaostalega avstenita

Zaostale napetosti v posameznih strojnih delih so posledica toplotne in mehanske obdelave, lahko pa so vnesene tudi namenoma z različnimi postopki obdelave kot je mehansko utrjevanje površine izdelka. Natančno poznavanje vrednosti in porazdelitve zaostalih napetosti je ključnega pomena pri analizi in kontroli kvalitete izdelkov kakor tudi za natančno napoved dobe trajanja posameznega izdelka.

Med toplotno obdelavo so jekla pogosto segreta v avstenitno območje, iz katerega jih nato na različne načine ohlajamo. Pri ohlajanju se avstenit transformira v različne mikrostrukture. V določenih primerih se zgodi, da se avstenit ne transformira v celoti in je v materialu po koncu obdelave še vedno prisoten določen delež avstenita, ki ga imenujemo zaostali avstenit.

V podjetju Ravne Systems d.o.o. zaostale napetosti ter zaostali avstenit merimo s pomočjo prenosne XRD (rentgenska difrakcija, ang. X-Ray Diffraction) naprave Xstress 3000 G2R, proizvajalca Stresstech Group. XRD metoda meritve zaostalih napetosti ter zaostalega avstenita je neporušitvena metoda, s pomočjo katere merimo na površini izdelka. Za merjenje vrednosti in določanje porazdelitve zaostalih napetostih ter zaostalega avstenita v globino je možno uporabiti postopek elektropoliranja izdelka. Naprava je prenosna in omogoča izvajanje meritev na terenu oz. pri kupcu.

Postopek merjenja zaostalih napetosti je akreditiran s strani Slovenske akreditacije (SA) in se izvaja skladno s standardom SIST EN 15305:2009 »Neporušitveno preskušanje – Preskusna metoda analize zaostalih napetosti z uklonom rentgenskih žarkov / Non-destructive testing. Test method for residual stress analysis by X-ray diffraction«.

Postopek merjenja zaostalega avstenita je akreditiran s strani Slovenske akreditacije (SA) in se izvaja skladno s standardom ASTM E975-13 »Določanje zaostalega avstenita v jeklu s skoraj naključno kristalografsko orientacijo po metodi rentgenske difrakcije / X-Ray Determination of Retained Austenite in Steel with Near Random Crystallographic Orientation«.

Glavne prednosti opisane merilne metode in uporabe merilne naprave Xstress 3000 2GR so: natančnost in ponovljivost meritev, možnost merjenja površinskih in podpovršinskih napetosti, hitrost izvajanja meritev in nizki stroški posamezne meritve.

AKREDITACIJSKA LISTINA LP-107